SDPX-1變壓器繞組變形測試儀該試驗(yàn)所采用的方法為頻率響應(yīng)法,其測試原理如圖1.1 所示。在變壓器繞組的一端加入掃頻信號VS,輸出不同頻率的正弦波電壓,通過數(shù)字化記錄裝置同時(shí)檢測不同掃描頻率下繞組兩端的對地電壓信號Vi(n)和Vo(n),并對數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,得到變壓器的傳遞函數(shù)H(N)=20lg[Vo(n)/ Vi(n)] ,單位:dB
被測變壓器繞組
圖1.1 頻率響應(yīng)分析法測試原理
頻率響應(yīng)法是利用的掃頻測量技術(shù),通過測量變壓器各個(gè)繞組的頻率響應(yīng)特性變化,并對測試結(jié)果進(jìn)行縱向或橫向的相關(guān)性比較,即相當(dāng)于比較變壓器繞組的結(jié)構(gòu)特性“指紋”圖。如將變壓器遭受短路沖擊后測得的各個(gè)繞組的頻率響應(yīng)特性與原始圖譜(或短路前測量的圖譜)比較,并綜合考慮變壓器的運(yùn)行情況,如是否經(jīng)受近區(qū)短路沖擊、短路電流大小等,從而診斷繞組是否存在變形。在進(jìn)行變壓器繞組變形試驗(yàn)過程中,我們發(fā)現(xiàn)頻響法具有很高的靈敏度。
圖1.2為變壓器繞組變形測試原理圖。*個(gè)諧振峰是由Cb與整個(gè)線圈的電
感L所決定的,即有 由于L是固定值,因此Cb越大,則*諧振峰的頻率f1越小。
圖1.2變壓器繞組變形試驗(yàn)原理圖
圖中:Cs為串聯(lián)的餅間電容;Cg為對地電容;
Cb為套管對地電容;Ls為線圈電感
SDPX-1變壓器繞組變形測試儀的診斷方法
圖譜之間的相互比較,主要是對比各諧振峰的移動情況。而幅值的變化,特別是高頻部分,由于易受外界因素的影響,在判斷時(shí)相對只起參考作用。
首先對同側(cè)的三相繞組的頻響特性曲線進(jìn)行比較,如果曲線相似程度較好,諧振峰基本重合,則判斷不存在繞組變形。
三相繞組間的相似性不好,則與原始圖譜比較。若兩次測量結(jié)果接近,可判斷繞組無變形。如無原始圖譜,則應(yīng)與同型號同廠家同批次的變壓器的測量結(jié)果比較。
當(dāng)頻響特性曲線低頻段(0.5kHz~10kHz)的諧振峰發(fā)生明顯變化時(shí),說明繞組的電感變化造成整體明顯變形。因?yàn)轭l率較低時(shí),繞組的對地電容及餅間電容容抗較大,而感抗較小。繞組的電感發(fā)生變化,必然導(dǎo)致頻率響應(yīng)特性曲線低頻段諧振峰左右移動。對絕大多數(shù)變壓器而言,其三相繞組低頻段頻率響應(yīng)特性曲線較為一致。
當(dāng)頻響特性曲線中頻段(10kHz~100kHz)的諧振峰發(fā)生明顯變化時(shí),在該頻率范圍,繞組的分布電容和電感均發(fā)揮作用,因此根據(jù)諧振峰的變化能夠較靈敏地反映繞組的局部變化。如果諧振峰左右移動或數(shù)目減少或增多,通??烧J(rèn)為繞組發(fā)生局部變形現(xiàn)象。對頻響特性曲線的分析,重點(diǎn)應(yīng)放在此頻段。
當(dāng)頻響特性曲線高頻段(100kHz~500kHz)的諧振峰發(fā)生明顯變化時(shí),說明繞組的對地電容變化了。頻率較高時(shí),繞組的感抗較大,基本被餅間電容旁路,電感變化對諧振峰的影響較小。對地電容的改變(如繞組整體位移或引線對地距離變化等)是造成該頻段變化的主要因素。
現(xiàn)階段,繞組變形診斷仍停留在根據(jù)頻響特性的變化情況來判斷繞組是否變形及變形的嚴(yán)重程度,尚難根據(jù)頻響特性曲線判斷繞組變形的具體部位。今后應(yīng)加強(qiáng)這方面的研究,并盡快制定變壓器繞組變形測試導(dǎo)則。
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